DE112006003406T5

DE112006003406T5 - System und Verfahren zum Bereitstellen von Temperaturdaten von einer Speichervorrichtung mit einem Temperatursensor

Info

Publication number: DE112006003406T5
Application number: DE112006003406T
Authority: DE
Inventors: Jeff W. Janzen; Jeffrey P. Wright; Todd D. Farrell
Original assignee: Micron Technology Inc
Current assignee: Round Rock Research LLC
Priority date: 2005-12-16
Filing date: 2006-12-13
Publication date: 2008-10-16
Anticipated expiration: 2026-12-14
Also published as: TW200739598A; TWI316716B; US20120232716A1; CN101371117A; WO2007076276A3; US7677796B2; WO2007076276A2; US20070140315A1; US20090052268A1; US8186878B2; US7441949B2; KR20080081042A; DE112006003406B4; US20100142287A1

Abstract

Temperaturdaten-Ausgangsschaltung zum Bereitstellen von Ausgangsdaten an einer Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen, die eine durch einen Temperatursensor gemessene Temperatur anzeigen, wobei die Schaltung Folgendes aufweist:
Eine Temperaturbereichsschaltung, die mit dem Temperatursensor gekoppelt ist und dafür konfiguriert ist, Daten zu empfangen, die die von dem Temperatursensor gemessene Temperatur darstellen, sowie weiterhin dafür konfiguriert ist, ansprechend darauf Temperaturdaten zu erzeugen, die die von dem Temperatursensor gemessene Temperatur anzeigen;
ein Register, das mit der Temperaturbereichsschaltung gekoppelt ist, zum Speichern der Temperaturdaten; und
eine Ausgangstreiberschaltung, die mit dem Register und der Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen gekoppelt ist, wobei die Ausgangstreiberschaltung dafür konfiguriert ist, die Temperaturdaten in asynchroner Weise an Ausgangsanschlüsse auszugeben und andere Daten in synchroner Weise auszugeben.

Description

TECHNISCHES GEBIET
Die vorliegende Erfindung bezieht sich im Allgemeinen auf Halbleiterspeichervorrichtungen und betrifft im Spezielleren Speichervorrichtungen mit einem integrierten Temperatursensor zum Messen einer Temperatur in Bezug auf die Speichervorrichtung sowie zum Bereitstellen von Ausgangsdaten, die die gemessene Temperatur darstellen.
HINTERGRUND DER ERFINDUNG
Eine übliche Halbleitervorrichtung ist eine dynamische Festzugriffs-Speichervorrichtung ("DRAM"-Vorrichtung). Die DRAM-Vorrichtung wird typischerweise zum Speichern von Daten beispielsweise in einem Computersystem verwendet. Derzeitige DRAM-Vorrichtungen sind dazu ausgebildet, in Abhängigkeit von einem Systemtakt synchron zu arbeiten, der Taktfrequenzen von über 600 MHz aufweisen kann. Dese Vorrichtungen werden als synchrone DRAM-Vorrichtungen ("SDRAM"-Vorrichtungen) bezeichnet. SDRAM-Vorrichtungen können in vielen verschiedenen Anwendungen eingesetzt werden, von denen sich viele in kompakten Umgebungen mit in der Nähe vorgesehenen elektronischen Vorrichtungen relativ nahe bei den SDRAM-Vorrichtungen befinden. Ein übliches Beispiel für eine derartige Umgebung ist ein herkömmlicher tragbarer Laptop-Computer, in dem SDRAM-Vorrichtungen zusammen mit anderen üblichen Computervorrichtungen und Schaltungen, wie zum Beispiel einem Mikroprozessor, einem Festplatten-Laufwerk, Stromkreisen und einer Batterie, computergesteuerten Chip-Sätzen, CD-ROM/DVD-Laufwerk, drahtlosen Kommuni kationsvorrichtungen und dergleichen, in einer klein dimensionierten Umgebung eingeschlossen sind.
Die Computervorrichtungen und Schaltungen müssen dafür ausgebildet sein, über einen Bereich von Temperaturen zu arbeiten. In Zeiten, zu denen viele der Vorrichtungen und Schaltungen gleichzeitig betrieben werden oder diese für eine lange Zeitdauer betrieben werden, wird mehr Wärme erzeugt als in Situationen, in denen sich der Computer im Leerlaufzustand befindet oder nur einige wenige der Vorrichtungen oder Schaltungen in Betrieb sind. Wie man sich vorstellen kann, kann in einer solchen kleinen und dicht gedrängten Umgebung die Temperatur, bei der die verschiedenen Vorrichtungen und Schaltungen arbeiten, als Ergebnis der Wärme beträchtlich sein, die erzeugt wird, wenn diese Vorrichtungen und Schaltungen in Betrieb sind und Energie verbrauchen. Unter einigen höheren Temperaturbedingungen beginnen die Leistungseigenschaften der verschiedenen Computervorrichtungen und Schaltungen sich zu verschlechtern. Beispielsweise wird in Bezug auf SDRAM-Vorrichtungen die Haltezeit, die Daten ohne die Notwendigkeit eines Neuschreibens oder "Auffrischens" der Daten gespeichert werden können, mit steigender Betriebstemperatur geringer. Unter harten Betriebsbedingungen kann die Temperatur ausreichend sein, dass einige Zellen, die unter niedrigeren Temperaturbedingen akzeptable Halteeigenschaften aufweisen, zum Defekt gebracht werden. Darüber hinaus sind in den Schaltungseinrichtungen der SDRAM-Vorrichtungen enthaltene Transistoren möglicherweise nicht in der Lage, unter höheren Temperaturbedingungen den gleichen Treiberstrom zu liefern oder mit der gleichen Geschwindigkeit zu schalten, sodass die Leistungsfähigkeit der SDRAM-Vorrichtungen beeinträchtigt wird.
Für das Management der Temperatur, bei der die Computervorrichtungen und Schaltungen arbeiten, werden verschiedene Kühlverfahren verwendet. Einige üblichere Kühlverfahren im Einsatz sehen eine ausreichende Anzahl von Ventilationseinrichtungen in einem Computergehäuse vor, um das Entweichen von Wärme zu ermöglichen, und zwar einschließlich elektrischer Gebläse, die aktiviert werden, wenn bestimmte Temperaturbedingungen erfüllt werden, um dadurch einen Kühlluftstrom für die Vorrichtungen und Schaltungen zu erzeugen, sowie einschließlich thermischer Stilllegungs-Schaltungseinrichtungen, die den Betrieb des Computers automatisch stilllegen oder beenden, um das Auftreten von irreparablen Schäden an den Computervorrichtungen und Schaltungen zu verhindern. Eine weitere Vorgehensweise besteht in der Verwendung von Vorrichtungen und Schaltungen, die bei niedrigeren Spannungen arbeiten oder die hinsichtlich der Energie effizienter sind, um dadurch den Stromverbrauch zu reduzieren. Ein offensichtlicher Vorteil hiervon ist die Verlängerung der Zeitdauer, über die batteriebetriebene Computer genutzt werden können. Ein weiterer Vorteil aus der Reduzierung des Stromverbrauchs besteht jedoch in der Reduzierung der Menge an elektrischer Energie, die während des Betriebs der Vorrichtungen und Schaltungen in Wärmeenergie umgesetzt wird. Das Erzeugen von weniger Wärme führt generell zur Entstehung von niedrigeren Betriebstemperaturen.
Ein jüngerer Vorschlag mit spezieller Anwendbarkeit für Speichervorrichtungen, wie zum Beispiel SDRAM-Vorrichtungen, besteht in der Ausbildung von Speichervorrichtungen, die einen integrierten Temperatursensor beinhalten, der zum Messen der Temperatur der Speichervorrichtung verwendet wird. Die Speichervorrichtung kann angewiesen werden, Daten auszugeben, die die Betriebstemperaturbedingung darstellen, wie diese durch den integrierten Temperatursensor gemessen wird. Auf der Basis der Ausgangsdaten der Speichervorrichtung können Maßnahmen ergriffen werden, um die Betriebsfähigkeit der Speichervorrichtung aufrecht zu erhalten, wobei dies Aktionen zum Beibehalten oder Reduzieren der Betriebstemperatur der Speichervorrichtung oder zum Ändern der Betriebsbedingungen, wie einer Steigerung der Auffrischrate der Speichervorrichtung, beinhalten kann. Wenn zum Beispiel eine Speichersteuerung Daten von einer Speichervorrichtung mit einem Temperatursensor erhält, der anzeigt, dass eine kritische Temperatur überschritten worden ist, kann die Speichersteuerung die Speichervorrichtung zwangsweise in einen Leerlaufzustand versetzen, bis die Temperatur auf ein ausreichendes Niveau reduziert ist, um den Betrieb wieder aufzunehmen.
Hinsichtlich des Formats der Datenausgabe durch eine Speichervorrichtung mit einem Temperatursensor sind verschiedene Protokolle vorgeschlagen worden. Ein Beispiel ist die Bereitstellung von Daten mit nur einem binären Zustand, wobei der eine Zustand anzeigt, dass die gemessene Temperatur der Speicher vorrichtung unterhalb eines Temperaturschwellenwerts liegt, und der andere Zustand anzeigt, dass die gemessene Temperatur oberhalb der Temperaturschwelle liegt. Obwohl die Ausgangsdaten der Speichervorrichtung in einfacher Weise interpretiert werden können, um eine Anzeige für die gemessene Temperatur in Relation zu einer einzigen Temperaturschwelle zu schaffen, kann diese Vorgehensweise inakzeptabel sein, wenn Daten erwünscht sind, die eine höhere Temperaturauflösung darstellen.
Ein weiterer Ansatz sieht Daten mit nur einem binären Zustand vor, die eine gemessene Temperatur relativ zu einer Mehrzahl von programmierbaren Temperaturschwellen anzeigen. Bei diesem Ansatz kann eine höhere Temperaturauflösung durch die zwei Zustände aufweisenden Daten im Vergleich zu dem Ansatz mit einer einzigen Temperaturschwelle geschaffen werden, indem wenigstens zwei Temperaturschwellen programmiert werden, wobei die eine Temperaturschwelle die obere Grenze eines Temperaturbereichs darstellt und die andere Temperaturschwelle die untere Grenze des Temperaturbereichs darstellt. Beim Interpretieren der Ausgangsdaten der Speichervorrichtung stellt der eine Zustand der Daten die Situation dar, dass sich die gemessene Temperatur innerhalb des programmierten Temperaturbereichs befindet, und der andere Zustand der Daten stellt die Situation dar, dass die gemessene Temperatur außerhalb des programmierten Temperaturbereichs liegt. Alternativ hierzu kann einer der Zustände der Daten die Situation darstellen, dass die gemessene Temperatur keine der Temperaturschwellen über- bzw. unterschritten hat, wobei ein Signalimpuls des anderen Zustands die Zeiten darstellt, zu denen die gemessene Temperatur eine der programmierten Temperaturschwellen überquert. Obwohl die Daten bei diesem Ansatz zur Schaffung von einfach interpretierbaren Daten mit einer größeren Temperaturauflösung als bei der Vorgehensweise mit einer einzigen Temperaturschwelle führen, zeigt der Zustand der Ausgangsdaten dennoch nicht direkt an, ob die gemessene Temperatur höher oder niedriger als der programmierte Temperaturbereich ist, sondern er zeigt einfach an, ob sich die gemessene Temperatur innerhalb des programmierten Temperaturbereichs befindet. In Fällen, in denen eine noch höhere Temperaturauflösung erwünscht ist, ist somit die vorstehend beschriebene Vorgehensweise nicht akzeptabel. Darüber hinaus führt die Programmierung der Tempe raturschwellen zu zusätzlicher Komplexität bei der Ausbildung und dem Betrieb von Speichervorrichtungen mit diesem Merkmal.
Eine weitere Vorgehensweise zum Schaffen von Temperaturdaten von einem integrierten Temperatursensor besteht in der Ausgabe eines Datenworts, das die von dem Temperatursensor gemessene Temperatur darstellt. Das Datenwort wird nacheinander von mehreren Dateneingangs/Datenausgangseinrichtungen gleichzeitig abgegeben, um eine Bestätigung mit Redundanz zu schaffen, und in Bezug auf einen der Speichervorrichtung zugeführten Temperaturbefehl zeitlich gesteuert, damit die korrekten Bits des Datenwortes zwischengespeichert werden. Obwohl die durch diese Vorgehensweise erzielte Temperaturauflösung höher ist als bei den vorstehend beschriebenen Vorgehensweisen, ist die zeitliche Steuerung der nacheinander erfolgenden Ausgabe der Bits des Datenworts sowie der Zwischenspeicherung von diesen viel kritischer für eine exakte Interpretierung der Temperaturdaten. Wenn entweder die Ausgabe oder die Zwischenspeicherung der Sequenz von Bits des Datenworts nicht korrekt zeitlich gesteuert wird, wenn zum Beispiel ein Taktzyklus zu früh oder zu spät beginnt, werden die falschen Bits als Temperaturwert interpretiert. Darüber hinaus kann die sequenzielle Ausgabe des Datenworts die normalen Lese- und Schreibvorgänge beeinträchtigen, die unmittelbar nach der Ausgabe der Temperaturdaten stattfinden.
Aus diesem Grund besteht ein Bedarf für ein System und ein Verfahren zum Bereitstellen von Temperaturinformation von einem integrierten Temperatursensor, mit dem sich eine angemessene Temperaturauflösung sowie eine einfache Interpretierung der Temperaturdaten erzielen lassen.
KURZBESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
Die vorliegende Erfindung ist auf eine Schaltung und ein Verfahren gerichtet, die Temperaturdaten liefern, welche eine durch einen Temperatursensor gemessene Temperatur anzeigen. Bei einem Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung ist der Temperatursensor in eine Halbleitervorrichtung integriert und ist die Schaltung mit dem Temperatursensor gekoppelt und dafür konfiguriert, eine gemessene Temperatur des Temperatursensors in Temperaturdaten umzuwandeln, die für einen aktuellen groben Temperaturbereich einen von einer Mehrzahl von feinen Temperaturbereichen entsprechend der gemessenen Temperatur identifizieren. Gemäß einem weiteren Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung beinhaltet die Schaltung eine Ausgangstreiberschaltung, die mit einem die Temperaturdaten speichernden Register sowie mit einer Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen gekoppelt ist und die dafür konfiguriert ist, die Temperaturdaten in asynchroner Weise an Ausgangsanschlüsse auszugeben sowie andere Daten in synchroner Weise auszugeben.
Gemäß einem weiteren Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zum Überwachen einer Temperatur geschaffen, die von einem Temperatursensor gemessen wird, der in eine Halbleiterschaltung integriert ist. Das Verfahren beinhaltet die Vorgabe eines aktuellen groben Temperaturbereichs bis zu einem minimalen groben Temperaturbereich sowie das Empfangen von Temperaturdaten von der Halbleiterschaltung. Die Temperaturdaten von der Halbleiterschaltung identifizieren einen von einer Mehrzahl von feinen Temperaturbereichen entsprechend der durch den Temperatursensor gemessenen Temperatur. Ansprechend auf die Temperaturdaten, die einen feinen Temperaturbereich identifizieren, der einem Bereichsüberschreitungszustand für den aktuellen groben Temperaturbereich entspricht, wird der aktuelle grobe Temperaturbereich auf einen höheren groben Temperaturbereich umgeschaltet. Ansprechend auf die Temperaturdaten, die einen feinen Temperaturbereich darstellen, der einem Bereichsunterschreitungszustand für den aktuellen groben Temperaturbereich entspricht, wird der aktuelle grobe Temperaturbereich auf einen niedrigeren groben Temperaturbereich umgeschaltet. In Situationen, in denen der aktuelle grobe Temperaturbereich nicht umgeschaltet wird und die kritische Temperatur nicht überschritten wird, wird ein feiner Temperaturbereich, der der von dem Temperatursensor gemessenen Temperatur entspricht, an Hand des aktuellen groben Temperaturbereichs und der Temperaturdaten bestimmt.
KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
In den Zeichnungen zeigen:
1 ein Funktionsblockdiagramm einer SDRAM-Vorrichtung mit einer Temperaturdaten-Ausgangsschaltung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
2 ein Funktionsblockdiagramm einer Temperaturdaten-Ausgangsschaltung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
3 eine Tabelle mit programmierbaren Temperaturdatenbereichen für die Temperaturdaten-Ausgangsschaltung, die in der SDRAM-Vorrichtung der 1 enthalten ist;
4 ein Zeitsteuerungsdiagramm für verschiedene Signale während des Betriebs der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung, die in der SDRAM-Vorrichtung der 1 enthalten ist;
5 ein Flussdiagramm zur Erläuterung der Arbeitsweise der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung, die in der SDRAM-Vorrichtung der 1 enthalten ist, gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung; und
6 ein Blockdiagramm eines Prozessor-basierten Systems, das eine Speichervorrichtung mit einer Temperaturdaten-Ausgangsschaltung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung beinhaltet.
AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung sind auf eine Temperaturdaten-Ausgangsschaltung sowie auf ein Verfahren für eine Halbleitervorrichtung mit einem integrierten Temperatursensor gerichtet. Bestimmte Details sind im Folgenden angegeben, um ein ausreichendes Verständnis der Erfindung zu schaffen. Für den Fachmann versteht es sich jedoch, dass die Erfindung auch ohne diese speziellen Details ausgeführt werden kann. Ferner sind die speziellen Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung, wie sie hierin beschrieben werden, lediglich als Beispiel zu verstehen und sollen den Umfang der Erfindung nicht auf diese speziellen Ausführungsbeispiele einschränken. Andererseits sind allgemein bekannte Schaltungen, Steuersignale, Zeitsteuerungsprotokolle und Software-Operationen nicht im Detail dargestellt, um eine unnötige Überfrachtung der Erfindung zu vermeiden.
1 veranschaulicht eine Speichervorrichtung, bei der eine Temperaturdaten-Ausgangsschaltung 150 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung verwirklicht ist. Die Anwendung der hierin beschriebenen Prinzipien ist jedoch nicht nur auf Speichervorrichtungen beschränkt, die einen integrierten Temperatursensor beinhalten, sondern kann auch bei anderen integrierten Schaltungen Anwendung finden. Eine allgemeine Beschreibung der Speichervorrichtung 100 sowie ihrer Arbeitsweise ist im Folgenden angegeben, wobei auf diese eine ausführlichere Beschreibung der Temperaturausgangsschaltung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung folgt.
Bei der Speichervorrichtung 100 in 1 handelt es sich um einen eine doppelte Datenrate ("DDR") aufweisenden SDRAM. Die Speichervorrichtung 100 wird als Vorrichtung mit doppelter Datenrate bezeichnet, da die Datenworte, die zu und von der Speichervorrichtung 100 transferiert werden, mit der doppelten Rate eines herkömmlichen SDRAM transferiert werden, der Daten mit einer Rate überträgt, die der Frequenz des angelegten Taktsignals entspricht. Die Speichervorrichtung 100 beinhaltet einen Steuerlogik- und Befehls-Decoder 134, der eine Mehrzahl von Befehls- und Taktsignalen über einen Steuerbus empfängt, und zwar typischerweise von einer externen Schaltung, wie zum Bei spiel einer Speichersteuerung (nicht gezeigt). Die Befehlssignale beinhalten ein Chipauswählsignal CS#, ein Schreibfreigabesignal WE#, ein Spaltenadressen-Abtastimpulssignal CAS# sowie ein Reihenadressen-Abtastimpulssignal RAS#, während die Taktsignale ein Taktfreigabesignal CKE# sowie komplementäre Taktsignale CLK, CLK# beinhalten, wobei das "#" ein Signal als im aktiven niedrigen Zustand befindlich bezeichnet. Die Befehlssignals CS#, WE#, CAS# und RAS# werden auf Werte gesteuert, die einem betreffenden Befehl entsprechen, wie zum Beispiel einem Lesebefehl, einem Schreibbefehl oder einem Auto-Auffrischbefehl. Der Befehls-Decoder 134 beinhaltet ein Modusregister 135, das programmiert werden kann, um verschiedene Betriebsmoden der Speichervorrichtung 100 vorzugeben. Eines der Felder (nicht gezeigt) in dem Modusregister 135, das im Folgenden ausführlicher erläutert wird, ist ein Temperaturbereichsfeld TR zum Speichern eines Werts, mit dem einer von einer Mehrzahl von groben Temperaturbereichen ausgewählt wird.
Ansprechend auf die Taktsignale CLK, CLK# nimmt der Befehls-Decodierer 134 eine Zwischenspeicherung und Decodierung eines zugeführten Befehls vor und erzeugt eine Sequenz von Takt- und Steuersignalen für Steuerkomponenten 102 bis 132 zum Ausführen der Funktion eines anstehenden Befehls. Das Taktfreigabesignal CKE gibt das Takten des Befehls-Decoders 134 durch die Taktsignale CLK, CLK# frei. Weiterhin beinhaltet die Speichervorrichtung 100 ein Adressenregister 102, das Reihen-, Spalten- und Bereichsadressen über einen Adressbus empfängt, wobei eine Speichersteuerung (nicht gezeigt) typischerweise die Adressen liefert. Das Adressenregister 102 empfängt eine Reihenadresse und eine Bereichsadresse, die an einen Reihenadressen-Multiplexer 104 bzw. eine Bereichs-Steuerlogikschaltung 106 angelegt werden. Der Reihenadressen-Multiplexer 104 legt entweder die von dem Adressenregister 102 empfangene Reihenadresse oder eine Auffrisch-Reihenadresse von einem Auffrischzähler 108 an eine Mehrzahl von Reihenadressen-Zwischenspeicher- und Decodereinrichtungen 110A-D an. Die Bereichssteuerlogik 106 aktiviert die Reihenadressen-Zwischenspeicher- und Decodereinrichtungen 110A-D entweder entsprechend der von dem Adressenregister 102 empfangenen Bereichsadresse oder entsprechend einer Auffrisch-Bereichsadresse von dem Auffrischzähler 108, und die aktivierte Reihenadressen-Zwischenspeicher- und Decodereinrichtung nimmt ein Zwischenspeichern und Decodieren der empfangenen Reihenadresse vor.
Die aktivierte Reihenadressen-Zwischenspeicher- und Decodereinrichtung 110A-D legt verschiedene Signale an einen entsprechenden Speicherbereich 112A-D an, um dadurch eine Reihe von Speicherzellen, die der decodierten Reihenadresse entsprechen, ansprechend auf die decodierte Reihenadresse zu aktivieren. Jeder Speicherbereich 112A-D beinhaltet ein Speicherzellenfeld mit einer Mehrzahl von Speicherzellen, die in Reihen und Spalten angeordnet sind, und die in den Speicherzellen in der aktivierten Reihe gespeicherten Daten werden in Abtastverstärkern in dem entsprechenden Speicherbereich gespeichert. Der Reihenadressen-Multiplexer 104 führt die Auffrisch-Reihenadresse von dem Auffrischzähler 108 den Decodern 110A-D zu. Die Bereichs-Steuerlogikschaltung 106 verwendet die Auffrisch-Bereichsadresse von dem Auffrischzähler, wenn die Speichervorrichtung 100 in Reaktion auf einen der Speichervorrichtung 100 zugeführten Auto-Auffrischbefehl oder Selbstauffrischbefehl in einem Autoauffrisch-Betriebsmodus oder in einem Selbstauffrisch-Betriebsmodus arbeitet, wie dies den Fachleuten klar ist.
Eine Spaltenadresse wird dem Adressenbus nach den Reihen- und Bereichsadressen zugeführt, und das Adressenregister 102 führt die Spaltenadresse einem Spaltenadressenzähler und Zwischenspeicher 114 zu, der wiederum die Spaltenadresse zwischenspeichert und die zwischengespeicherte Spaltenadresse einer Mehrzahl von Spalten-Decodern 116A-D zuführt. Die Bereichssteuerlogik 106 aktiviert den Spalten-Decoder 116A-D entsprechend der empfangenen Bereichsadresse, und der aktivierte Spalten-Decoder decodiert die zugeführte Spaltenadresse. In Abhängigkeit von dem Betriebsmodus der Speichervorrichtung 100 führt der Spaltenadressenzähler und Zwischenspeicher 114 die zwischengespeicherte Spaltenadresse entweder direkt den Decodern 116A-D zu oder er führt den Decodern eine Abfolge von Spaltenadressen, beginnend mit der Spaltenadresse zu, die durch das Adressenregister 102 bereitgestellt wird. In Reaktion auf die Spaltenadresse von dem Zähler und Zwischenspeicher 114 führt der aktivierte Spalten-Decoder 116A-D Decodier- und Steuersignale einer I/O-Steuer- und Datenmaskierschaltung 118 zu, die wiederum auf Speicherzellen zugreift, die der decodierten Spaltenadresse in der aktivierten Reihe von Speicherzellen in dem Speicherbereich 112A-D entsprechen, auf den zugegriffen wird.
Während eines Datenlesebefehls werden Daten aus den adressierten Speicherzellen ausgelesen und durch die I/O-Steuer- und Datenmaskierschaltung 118 mit einem Lesezwischenspeicher 120 gekoppelt. Die I/O-Steuer- und Datenmaskierschaltung 118 liefert N Bits von Daten an den Lesezwischenspeicher 120, der dann vier N/4-Bit-Worte einem Multiplexer 122 zuführt. Wie in 1 gezeigt ist, liefert die Schaltung 118 16 Bits an den Lesezwischenspeicher 120, der wiederum 4-Bit-Worte an den Multiplexer 122 liefert. Ein I/O-Puffer 124 empfängt nacheinander die N/4-Bit-Worte DATA von dem Multiplexer 122 und empfängt ferner ein Datenabtastimpulssignal DQS von einem Abtastimpulssignalgenerator 126 sowie ein verzögertes Taktsignal CLKDEL von dem verzögerungssynchronisierten Regelkreis ("DLL") 127. Das I/O-Puffer 124 beinhaltet Treiberschaltungen (in 1 nicht gezeigt), die zum Empfangen der dem I/O-Puffer 124 zugeführten N/4-Bit-Worte DATA gekoppelt sind und die durch das CLKDEL-Signal getaktet werden. Das DOS-Signal wird von einer externen Schaltung, wie zum Beispiel einer Speichersteuerung (nicht gezeigt), zum Synchronisieren des Empfangs von gelesenen Daten während Lesevorgängen verwendet. In Reaktion auf das verzögerte Taktsignal CLKDEL geben die Treiberschaltungen des I/O-Puffers 124 sequenziell die empfangenen DATA an den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 als entsprechendes Datenwort aus. Jedes Datenwort wird synchron mit einer steigenden oder fallenden Flanke eines CLK-Signals, das zum Takten der Speichervorrichtung 100 angelegt wird, an einen Datenbus ausgegeben. Das I/O-Puffer 124 gibt ferner das Datenabtastimpulssignal DQS aus, das steigende und fallende Flanken synchron mit den steigenden bzw. fallenden Flanken des CLK-Signals aufweist.
Während Datenschreibvorgängen legt eine externe Schaltung, wie zum Beispiel eine Speichersteuerung (nicht gezeigt), N/4-Bit-Datenworte an den Datenanschlüssen DQ0–DQ3, das Abtastimpulssignal DQS sowie entsprechende Datenmaskiersignale DM an den Datenbus an. Empfängerschaltungen (in 1 ebenfalls nicht gezeigt) in dem I/O-Puffer 124 sind mit den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 gekoppelt, um die Datenworte zu empfangen. Das I/O-Puffer 124 empfängt jedes Datenwort und die zugehörigen DM-Signale und führt diese Signale Eingangsregistern 130 zu, die durch das DQS-Signal getaktet werden. In Reaktion auf eine steigende Flanke des DQS-Signals nehmen die Eingangsregister 130 eine Zwischenspeicherung eines ersten N/4-Bit-Datenworts und der zugehörigen DM-Signale vor, und in Reaktion auf eine sinkende Flanke des DQS-Signals nehmen die Eingangsregister eine Zwischenspeicherung des zweiten N/4-Bit-Datenworts sowie der zugehörigen DM-Signale vor. Das Eingangsregister 130 liefert die vier zwischengespeicherten N/4-Bit-Datenworte als N-Bit-Wort an einen Schreib-FIFO und Treiber 132, der das angelegte Datenwort und die angelegten DM-Signale in den Schreib-FIFO und Treiber in Reaktion auf das DQS-Signal taktet. Das Datenwort wird in Reaktion auf das CLK-Signal aus dem Schreib-FIFO und Treiber 132 getaktet und an die I/O-Steuer- und Maskierschaltung 118 gegeben. Die I/O-Steuer- und Maskierschaltung 118 transferiert das Datenwort zu den adressierten Speicherzellen in dem Bereich 112A-D, auf den zugegriffen wird, und zwar nach Maßgabe der DM-Signale, die zum selektiven Maskieren von Bits oder Gruppen von Bits in den Datenworten (das heißt, in den Schreibdaten) verwendet werden können, die in die adressierten Speicherzellen eingeschrieben werden.
Die Speichervorrichtung 100 beinhaltet ferner einen Temperatursensor 160 zum Messen einer Temperatur der Speichervorrichtung 100. Vorzugsweise ist der Temperatursensor 160 in integraler Weise mit der Speichervorrichtung 100 ausgebildet und misst die Betriebstemperatur von dieser. Der Temperatursensor 160 ist hinsichtlich seiner Ausbildung und seines Betriebs herkömmlicher Art. Beispielsweise können herkömmliche Halbleitertemperatursensoren verwendet werden, wie zum Beispiel Temperatursensoren, die eine Diode, einen Transistor, Thermistoren und dergleichen verwenden. Der Temperatursensor 160 erzeugt ein Strom- oder Spannungssignal mit einer temperaturabhängigen Größe, wie dies in der Technik bekannt ist. Ein herkömmlicher Analog/Digital-Wandler ("ADC") 162, der mit dem Temperatursensor 160 gekoppelt ist, wandelt das analoge Strom- oder Spannungssignal in einen digitalen binären Wert TEMP um, der an die Temperaturdaten-Ausgangsschaltung 150 gegeben wird. Die Temperaturdaten-Ausgangsschaltung 150 beinhaltet eine Temperaturbereichsschaltung 164, die in der im Folgenden noch ausführlicher erläuterten Weise den von dem ADC 162 ausgegebenen Wert TEMP in Vier-Bit-Temperaturausgangsdaten TEMP_DATA auf der Basis eines ausgewählten groben Temperaturbereichs umwandelt. Der grobe Temperaturbereich wird auf der Basis des Werts ausge wählt, der in dem Temperaturbereichsfeld TR in dem Modusregister 135 programmiert ist.
Die TEMP_DATA werden in einem Temperaturdatenregister 168 gespeichert, das mit den Treiberschaltungen des I/O-Puffers 124 gekoppelt ist. In Reaktion auf den Empfang und das Decodieren eines Temperaturlesebefehls erzeugt der Befehls-Decoder 134 ein aktives Temperaturlesesignal TEMP_READ, das an eine OE-Steuerschaltung 125 geliefert wird. Die OE-Steuerschaltung 125 wiederum erzeugt ein aktives Temperaturausgangsfreigabesignal TEMPOUTEN, die die Treiberschaltungen zum Koppeln der TEMP_DATA mit den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 schaltet, von denen die TEMP_DATA gelesen werden können.
2 veranschaulicht den Temperatursensor 160 und den A/D-Wandler 162, die Temperaturdaten-Ausgangsschaltung 150 und einen Datentreiber 200, der in dem I/O-Puffer 124 (1) enthalten ist. Wie bereits erläutert worden ist, erzeugt der Temperatursensor 160 ein Strom- oder Spannungssignal mit einer Größe auf der Basis einer gemessenen Temperatur, das durch den A/D-Wandler 162 in einen digitalen TEMP-Wert umgewandelt wird, der die Größe des Strom- oder Spannungssignals darstellt. Der TEMP-Wert wird an die Temperaturbereichsschaltung 164 der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung 150 gegeben, um den Wert in Vier-Bit-Daten TEMP_DATA umzuwandeln. Die von der Temperaturbereichsschaltung 164 erzeugten TEMP_DATA sind davon abhängig, welcher der Temperaturbereiche durch einen programmierbaren Wert ausgewählt wird, die in dem Temperaturbereichsfeld TR in dem Modusregister 135 (1) vorgegeben sind. Wie in 2 gezeigt ist, wird ein TRANGE-Signal, das einen in dem TR-Feld in dem Modusregister 135 programmierten Zwei-Bit-Wert darstellt, zum Auswählen von einem der Temperaturbereiche der Temperaturbereichsschaltung 164 verwendet. Auf der Basis des durch das TRANGE-Signal ausgewählten Temperaturbereichs setzt die Temperaturbereichsschaltung 164 den TEMP-Wert in die geeigneten TEMP_DATA um. Die TEMP_DATA werden dem Temperaturdatenregister 168 für die Speicherung zugeführt. Die TEMP_DATA können durch die Temperaturbereichsschaltung 164 periodisch erzeugt werden, sodass die von dem Temperaturdatenregister 168 gespeicherten TEMP_DATA aktuell sind. Die Häufigkeit der Aktualisierung der TEMP_DATA sollte ausreichend sein, um eine angemessene zeitliche Auflö sung zu schaffen, damit Korrekturmaßnahmen in Reaktion auf ein Ansteigen und Abfallen der Temperatur ergriffen werden können. Es kann jedoch auch eine nicht-periodische Aktualisierung der TEMP_DATA ausgeführt werden, bei der zum Beispiel die TEMP_DATA in Reaktion auf einen Speichervorrichtungsvorgang, wie zum Beispiel einen Auto-Auffrischvorgang, aktualisiert werden.
Wie vorstehend beschrieben worden ist, ist der Datentreiber 200 ferner zum Empfang der DATA von dem Multiplexer 122 (1) gekoppelt, die in Reaktion auf das von dem DLL 127 gelieferte DELCLK-Signal in den Datentreiber 200 getaktet werden und mit den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 gekoppelt werden. Der Datentreiber 200 ist ferner mit dem Temperaturdatenregister 168 gekoppelt, um die TEMP_DATA zu empfangen. Jedes der vier Bits der TEMP_DATA wird mit einem jeweiligen der Datenanschlüsse DQ0–DQ3 gekoppelt, wenn das von der OE-Steuerschaltung 125 gelieferte TEMPOUTEN-Signal aktiv ist. Ein zwei Eingänge aufweisender Multiplexer (nicht gezeigt), der durch das TEMPOUTEN-Signal gesteuert wird, kann für jeden Datenanschluss DQ0–DQ3 verwendet werden, um zwischen dem jeweiligen Bit der DATA und der TEMP_DATA auszuwählen.
Im Gegensatz zu dem synchronen Datenpfad, der zum Takten der DATA in den Datentreiber 200 sowie zum Koppeln von diesen mit den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 verwendet wird, werden die TEMP_DATA durch einen asynchronen Ausgangspfad mit den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 gekoppelt. Die TEMP_DATA bleiben an den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 im Allgemeinen solange gültig, solange das TEMPOUTEN-Signal aktiv ist. Daher ist die Synchronisierung nicht kritisch, wenn die TEMP_DATA an den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 verfügbar gemacht werden und die TEMP_DATA gelesen werden, da die Temperaturausgangsdaten nicht sequenziell an den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 ausgegeben werden. Die TEMP_DATA können durch Abtasten der Datenanschlüsse DQ0–DQ3 zu jeder beliebigen Zeit während der Zeitdauer gelesen werden, in der die TEMP_DATA mit den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 gekoppelt sind. Indem die TEMP_DATA mit den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 durch den asynchronen Datenpfad anstatt durch den synchronen Datenpfad der DATA gekoppelt sind, können die vorstehend beschriebenen Situationen hinsichtlich der Vorgehensweisen beim Stand der Technik zum Bereitstellen von Temperaturausgangsdaten vermieden werden.
Wie vorstehend beschrieben worden ist, sind die Vier-Bit-TEMP_DATA, die von der Temperaturbereichsschaltung 164 in Reaktion auf die TEMP_DATA von dem A/D-Wandler 162 abgegeben werden, von dem ausgewählten groben Temperaturbereich abhängig. Die groben Temperaturbereiche, die von der Temperaturbereichsschaltung 164 verwendet werden, können vorgegeben werden, um den Betrieb der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung 150 zu vereinfachen. Das heißt, die Temperaturbereichsschaltung 164 für die Speichervorrichtung 100 ist mit groben Temperaturbereichen vorprogrammiert und muss nicht durch den Benutzer programmiert werden, um eine Temperaturablesung zu erzielen, sodass jegliche Installationserfordernisse vermieden sind. Bei alternativen Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung kann jedoch mindestens einer der groben Temperaturbereiche durch den Benutzer programmiert werden, um den Temperaturbereich nach Wunsch zuzuschneiden. Die groben Temperaturbereiche können vorab auf standardmäßige grobe Temperaturbereiche vorprogrammiert werden und können mit von dem Benutzer programmierbaren groben Temperaturbereichen überschrieben werden.
3 veranschaulicht eine Tabelle 300 mit Beispielen von vier vorgegebenen groben Temperaturbereichen 302 für die Temperaturbereichsschaltung 164. Ein erster grober Temperaturbereich 304 ist für 40 Grad Celsius ("°C") bis 55°C definiert und wird durch ein TRANGE-Signal ausgewählt, das einem Wert "00" entspricht, der für das Temperaturbereichsfeld in dem Modusregister 135 programmiert ist (TR = 00). Ein zweiter grober Temperaturbereich 306 ist für 55°C bis 70°C definiert und wird durch ein TRANGE-Signal ausgewählt, das einem Wert "01" entspricht (TR = 01), ein dritter grober Temperaturbereich 308 ist für 70°C bis 85°C definiert und wird durch ein TRANGE-Signal ausgewählt, das einem Wert "10" entspricht (TR = 10), und ein vierter grober Temperaturbereich 310 ist für 80°C bis 95°C definiert und wird durch ein TRANGE-Signal ausgewählt, das einem Wert "11" entspricht (TR = 11). Weiterhin zeigt die Tabelle 300 die Vier-Bit-TEMP_DATA 301, die dem Temperaturdatenregister 168 durch die Temperaturbereichsschaltung 164 in Reaktion auf den Empfang der digitalen TEMP-Daten von dem A/D-Wandler 162 zugeführt werden. Die Vier-Bit-TEMP_DATA 301 kön nen einen von fünf verschiedenen Temperaturbereichen innerhalb eines groben Temperaturbereichs 302 darstellen. Die feinen Temperaturbereiche definieren Temperaturbereiche innerhalb eines groben Temperaturbereichs. Obwohl die Anzahl der feinen Temperaturbereiche für jeden der in 3 gezeigten groben Temperaturbereiche gleich ist, muss diese Symmetrie nicht unbedingt vorhanden sein. Obwohl die TEMP_DATA in 3 unter Verwendung einer Vier-Bit-Binärzahl zum Identifizieren von einem von fünf verschiedenen feinen Temperaturbereichen codiert dargestellt sind, können die TEMP_DATA auch als binärer Wert codiert werden. Das heißt, der binäre Wert wird decodiert, um den feinen Temperaturbereich zu identifizieren. Beispielsweise können zwei Bits zum Identifizieren von einem von vier verschiedenen feinen Temperaturbereichen verwendet werden. Ein Vorteil bei dem binären Codierungssystem besteht darin, dass eine geringere Anzahl von Bits zum Decodieren nahezu der gleichen Anzahl von feinen Temperaturbereichen verwendet werden kann.
Obwohl bei dem vorliegenden Beispiel die TEMP_DATA nur fünf verschiedene feine Temperaturbereiche identifizieren, können die TEMP_DATA unter Verwendung der verschiedenen groben Temperaturbereiche Temperaturinformation für einen viel größeren ungefähren bzw. noch groberen Temperaturbereich unter Aufrechterhaltung einer guten Temperaturauflösung liefern. Wie in der Tabelle 300 der 3 gezeigt ist, können die gleichen Vier-Bit-TEMP_DATA zum Identifizieren von mehreren verschiedenen feinen Temperaturbereichen verwendet werden. Zum Beispiel stellt ein Wert von TEMP_DATA von "0011" eine gemessene Temperatur in dem feinen Temperaturbereich zwischen 45°C und 50°C für den groben Temperaturbereich 304 dar. Der gleiche Vier-Bit-TEMPDATA-Wert von "0011" stellt jedoch auch eine gemessene Temperatur in dem feinen Temperaturbereich zwischen 75°C und 80°C für den groben Temperaturbereich 308 dar. Die von der Temperaturbereichsschaltung 164 erzeugten TEMP_DATA sind somit von dem aktuellen groben Temperaturbereich abhängig. Darüber hinaus weist eine die TEMP_DATA empfangende Vorrichtung eine Aufzeichnung der aktuellen groben Temperaturbereichsinformation auf, um die TEMP_DATA korrekt zu interpretieren. Die grobe Temperaturbereichsinformation kann durch die Empfangsvorrichtung in mehreren Arten aufrechterhalten werden. Zum Beispiel kann die Empfangsvorrichtung mit dem TR-Wert programmiert werden und diesen Wert verfolgen, oder der aktuelle TR-Wert wird der Empfangsvorrichtung durch eine weitere Vorrichtung zugeführt, die den aktuellen groben Temperaturbereich verfolgt. Bei einer weiteren Ausführungsform wird das TR-Feld in dem Modusregister 135 abgefragt, um den aktuellen TR-Wert zu ermitteln.
Wie durch die Tabelle 300 veranschaulicht ist, können die beiden Bits zum Auswählen eines groben Temperaturbereichs 302 sowie die Vier-Bit-Temperaturausgangsdaten dazu verwendet werden, eine Temperaturablesung über einen ungefähren bzw. noch groberen Temperaturbereich von 40°C bis 95°C mit einer Auflösung 5°C zu schaffen. Es ist darauf hinzuweisen, dass der ungefähre Temperaturbereich eine Überlappung von 5°C zwischen den groben Temperaturbereichen 308 (70°C bis 85°C) und 310 (80°C bis 95°C) aufweist. Obwohl eine solche Überlappung nicht unbedingt vorhanden sein muss, ist die Überlappung von 5°C zwischen den groben Temperaturbereichen 308 und 310 vorgesehen, um ein unnötiges Umschalten zwischen den groben Temperaturbereichen 308 und 310 zu vermeiden, wenn die Speichervorrichtung unter typischen Temperaturen arbeitet, die im Allgemeinen zwischen 80°C und 85°C liegen. Da beide der groben Temperaturbereiche 308 und 310 die typische Betriebstemperatur aufweisen, kann die Notwendigkeit zum Hin- und Herschalten zwischen den beiden überlappenden groben Temperaturbereichen reduziert werden. Falls gewünscht, können jedoch die vorgegebenen groben Temperaturbereiche derart modifiziert werden, dass diese alle nicht überlappend sind und/oder nicht in Abfolge vorliegen, wobei man dennoch im Umfang der vorliegenden Erfindung bleibt. Darüber hinaus kann eine geringere oder größere Anzahl von TR-Bits sowie Bits für die TEMP_DATA verwendet werden, um eine geringere oder größere Anzahl von groben und/oder feinen Temperaturbereichen vorzusehen.
4 zeigt ein Zeitsteuerungsdiagramm unter Darstellung von verschiedenen Signalen, die mit der Abgabe eines Temperaturdaten-Lesebefehls an die Speichervorrichtung 100 (1) befasst sind. Zu einem Zeitpunkt T0 wird ein Temperaturdatenausgangsbefehl TEMPOUT an die Befehlsanschlüsse der Speichervorrichtung 100 angelegt. Der TEMPOUT-Befehl wird bei einer nachfolgenden ansteigenden Flanke des CK-Signals (das heißt, zu einem Zeitpunkt T1) durch den Befehlsdecoder 134 zwischengespeichert und decodiert. In Reaktion darauf wird ein aktives Steuersignal TEMP_READ (in 4 nicht gezeigt) von dem Be fehlsdecoder 134 erzeugt, um den Temperaturdaten-Ausgabevorgang zu initiieren. Nach einer Zeitverzögerung von Tdelay werden die in dem Temperaturdatenregister 168 gespeicherten Vier-Bit-TEMP_DATA zu einem Zeitpunkt Tm an den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 verfügbar gemacht. Während der Verzögerung Tdelay wird der synchrone Datenpfad gelöscht, und der Datentreiber 200 (2) wird durch die OE-Steuerschaltung 124 derart geschaltet, dass die TEMP_DATA mit den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 gekoppelt werden. Jedes Bit der TEMP_DATA wird an einem jeweiligen der Datenanschlüsse DQ0–DQ3 bereitgestellt. Wie bereits beschrieben worden ist, werden die TEMP_DATA durch einen asynchronen Ausgangspfad bereitgestellt. Die Bits der TEMP_DATA werden nicht sequenziell an die Datenanschlüsse DQ0–DQ3 ausgegeben und bleiben für eine Temperaturhaltezeit Thold gültig. Während der Haltezeit Thold können die TEMP_DATA durch eine Empfangsvorrichtung abgetastet werden, um eine Temperaturablesung der Speichervorrichtung 100 zu erzielen. Im Hinblick auf die in der Tabelle 300 der 3 dargestellten groben und feinen Temperaturbereiche entsprechen die TEMP_DATA einem der feinen Temperaturbereiche von 5°C der ausgewählten vorgegebenen groben Temperaturbereiche 302 von 15°C. Die Empfangsvorrichtung decodiert die TEMP_DATA auf der Basis der groben Temperaturbereichsinformation, die sie verfolgt hat, um den korrekten Temperaturwert zu ermitteln. Zu einem Zeitpunkt Tn ist die Haltezeit Thold verstrichen, und die TEMP_DATA an den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 sind nicht mehr gültig.
Das Zeitsteuerdiagramm der 4 veranschaulicht die zeitliche Steuerung von Befehlssignalen und der TEMP_DATA-Haltezeit für ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Die zeitliche Steuerung und die Verwendung von Befehlssignalen kann jedoch für alternative Ausführungsformen modifiziert werden. Obwohl es in 4 nicht dargestellt ist, kann zum Beispiel ein Befehl zum Beenden der Verfügbarkeit der TEMP_DATA an den Datenanschlüssen DQ0–DQ3 verwendet werden. Das heißt, anstelle der Bereitstellung der Haltezeit Thold als vorgegebene Zeitdauer, nach deren Ablauf die TEMP_DATA nicht mehr verfügbar sind, können die TEMP_DATA auch unendlich gültig bleiben, bis ein Temperaturdatenabgabe-Beendigungsbefehl an die Speichervorrichtung 100 gegeben wird. Diese Ausführungsform schafft sogar noch geringere zeitliche Einschränkungen hinsichtlich der Ablesung der TEMP_DATA. Bei einer weiteren Ausführungsform wird anstelle der Abgabe des TEMPOUT-Befehls nur ein einziges Mal zum Initiieren des Temperaturdatenabgabevorgangs der TEMPOUT-Befehl für die gesamte Zeitdauer (das heißt, für jeden Taktzyklus des CK-Signals) abgegeben, über die die TEMP_DATA verfügbar sein sollen. Wenn ein weiterer Befehl durch den Befehls-Decoder 134 zwischengespeichert und decodiert wird, sind die TEMP_DATA nicht mehr verfügbar.
Im Umfang der vorliegenden Erfindung können auch weitere Modifikationen vorgenommen werden. Obwohl es in 4 nicht dargestellt ist, kann ein Deselektier-Befehl (wobei WE nicht bestätigt ist), eines Null-Operation-Befehls NOP für jeden Taktzyklus des CK-Signals abgegeben werden, nachdem der TEMP-OUT-Befehl während der Zeitdauer abgegeben wird, in der die TEMP_DATA verfügbar sind. Obwohl der TEMP_DATA-Ausgangspfad asynchron ist, kann durch Bereitstellen eines NOP-Befehls für jeden Zyklus des CK-Signals sichergestellt werden, das keine falschen Speicherbefehle durch den Befehls-Decoder 134 während der Zeitdauer zwischengespeichert werden, in der die TEMP_DATA verfügbar gemacht sind.
Bei weiteren Ausführungsformen kann der Temperaturdaten-Ausgabevorgang gleichzeitig mit einem weiteren Arbeitsvorgang der Speichervorrichtung ausgeführt werden, bei der die Verwendung des Datentreibers 200 (2) nicht erforderlich ist. Wenn zum Beispiel ein TEMPOUT-Befehl an die Speichervorrichtung abgegeben wird, kann ein herkömmlicher Auto-Auffrischvorgang für Speicherzellen des Speicherfeldes 112A-D (1) ausgeführt werden, indem ein Auto-Auffrischbefehl an die Speichervorrichtung 100 gegeben wird, während auf die Temperaturdaten gewartet wird. Bei einer weiteren Ausführungsform werden nicht-essentielle Schaltungen während des Temperaturdaten-Ausgabevorgangs deaktiviert, wie zum Beispiel der DLL 127, da die TEMP_DATA auf einem asynchronen Ausgangspfad bereitgestellt werden, der kein CLKDEL-Signal für Taktzwecke benötigt.
Obwohl verschiedene Ausführungsbeispiele der Erfindung vorstehend beschrieben worden sind, können immer noch weitere Modifikationen hinsichtlich der zeitlichen Steuerung von Signalen, der Abgabe von Befehlen sowie die der Dauer der TEMP_DATA vorgenommen werden, ohne dass man den Umfang der vorliegenden Erfindung verlässt.
5 veranschaulicht ein Flussdiagramm zum Ausführen einer Temperaturablesung von der Speichervorrichtung 100 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Nach dem Einschalten bzw. Hochfahren der Speichervorrichtung 100 wird in einem Schritt 502 das TR-Feld in dem Modusregister auf "00" gesetzt, wobei dies bei dem vorliegenden Beispiel den niedrigsten groben Temperaturbereich darstellt. Im Hinblick auf die in der Tabelle 300 der 3 dargestellten groben Temperaturbereiche führt der Wert "00" zur Auswahl des groben Temperaturbereichs 304, der für 40°C bis 55°C definiert ist. In einem Schritt 504 wird die Temperatur überprüft, indem ein Temperaturdatenausgangsbefehl an die Speichervorrichtung 100 gegeben wird. Der Befehl wird typischerweise durch eine Speichersteuerung gegeben, jedoch kann es sich bei einigen Anwendungen bei der Vorrichtung, die den Temperaturdatenausgangsbefehl abgibt und die TEMP_DATA empfängt, um eine Speicherzentralsteuerung, eine Speichermodulsteuerung oder dergleichen handeln. Bei dem vorliegenden Beispiel ist die Empfangsvorrichtung durch eine Speichersteuerung dargestellt. In Reaktion auf den Temperaturdatenausgangsbefehl wird ein Vier-Bit-TEMP_DATA-Ausgangssignal an die Datenanschlüsse DQ0–DQ3 geliefert und durch die Speichersteuerung zwischengespeichert. In Schritten 506, 508 und 510 analysiert die Speichersteuerung die Kombination von Bits der TEMP_DATA, um festzustellen, ob irgendeine Vorgehensweise ergriffen werden sollte. In dem Schritt 506 werden die TEMP_DATA analysiert, um festzustellen, ob die gemessene Temperatur höher ist als ein kritischer Temperaturwert. Der kritische Temperaturwert ist typischerweise der höchste Temperaturwert des noch groberen Temperaturbereichs. Bei dem vorliegenden Beispiel, in dem die groben und die feinen Temperaturbereiche sowie die Vier-Bit-TEMP_DATA-Codierung der Tabelle 300 verwendet werden, beträgt die kritische Temperatur 95°C. Falls die TEMP_DATA eine Temperatur darstellen, die höher ist als die kritische Temperatur, führt die Speichersteuerung in einem Schritt 512 einen Systemoptimierungsvorgang durch, um die Temperatur der Speichervorrichtung 100 zu reduzieren. Die Bedingung, die dies auslöst, ist in Bezug auf die Tabelle 300, wenn alle vier Bits der TEMP_DATA "1" sind und TR = 11 ist. Wie vorstehend beschrieben worden ist, unterhält die die TEMP_DATA empfangende Vorrichtung eine Aufzeichnung des aktuellen Temperaturbereichs, um TEMP_DATA korrekt zu interpretieren. Die Temperatur der Speichervorrichtung 100 wird zu einem späteren Zeitpunkt in dem Schritt 504 geprüft, um das Fortschreiten der Abkühlung zu überwachen. Beispiele für die Systemoptimierung, die ausgeführt werden kann, beinhalten das zwangsweise Verbringen der Speichervorrichtung 100 in einen Leerlaufzustand, bis die Temperatur auf ein akzeptables Niveau reduziert ist, oder die Aktivierung eines Gebläses zum Unterstützen einer Luftströmung zum Kühlen der Speichervorrichtung. Weitere Prozesse, wie sie derzeit bekannt sind oder in der Zukunft zum Reduzieren der Temperatur der Speichervorrichtung 100 entwickelt werden, können ebenfalls eingesetzt werden.
Wenn der Wert TEMP_DATA keine Temperatur darstellt, die höher ist als die kritische Temperatur, analysiert die Speichersteuerung in einem Schritt 508 die TEMP_DATA, um festzustellen, ob die Temperatur die maximale Temperatur für den aktuellen groben Temperaturbereich überschreitet (das heißt, den Zustand der Überschreitung des Bereichs). Bei dem vorliegenden Beispiel zeigt ein Wert TEMP_DATA mit vier "1" Bits an, dass die von dem Temperatursensor 160 gemessene Temperatur den aktuellen Bereich übersteigt. Unter dieser Bedingung inkrementiert die Speichersteuerung den in dem Modusregister 135 gespeicherten TR-Wert in einem Schritt 514, um den nächstgrößten vorgegebenen groben Temperaturbereich auszuwählen. Der neue TR-Wert oder irgendeine Information, die den neuen groben Temperaturbereich anzeigt, wird von der Speichersteuerung aufgezeichnet, sodass die nächsten TEMP_DATA, die sie erhält, korrekt interpretiert werden. Die Speichersteuerung kehrt dann zu dem Schritt 504 zurück, um die Temperatur zu einem späteren Zeitpunkt zu überprüfen, wobei auf Grund der Änderung in dem groben Temperaturbereich die Vier-Bit-TEMP_DATA einem der feinen Temperaturbereiche in dem neuen groben Temperaturbereich entsprechen.
Wenn jedoch die TEMP_DATA keine Temperatur darstellen, die höher ist als die maximale Temperatur für einen groben Temperaturbereich, analysiert die Speichersteuerung die TEMP_DATA in einem Schritt 510, um festzustellen, ob die TEMP_DATA eine Temperatur darstellen, die niedriger ist als die Mindesttemperatur des aktuellen groben Temperaturbereichs (das heißt, einen Zustand der Unterschreitung des Bereichs). Bei dem vorliegenden Beispiel liegt diese Bedingung dann vor, wenn die vier Bits der TEMP_DATA "0" sind. Wenn Bereichs-Unterschreitungsbedingungen vorhanden sind, fährt die Speichersteuerung in einem Schritt 516 mit der Dekrementierung des in dem Modusregister 135 gespeicherten TR-Werts fort, um dadurch eine Einstellung auf einen niedrigeren groben Temperaturbereich vorzunehmen. Wie in dem Fall, in dem TR inkrementiert wird, wird der neue dekrementierte TR-Wert oder eine beliebige Information, die den neuen niedrigeren groben Temperaturbereich anzeigt, von der Speichersteuerung aufgezeichnet, sodass die nächsten TEMP_DATA, die sie erhält, korrekt interpretiert werden. Es kann davon ausgegangen werden, dass der minimale TR-Wert 00 ist und dass ein Dekrementierbefehl den TR-Wert nicht auf einen anderen Wert verändert. Die Speichersteuerung kehrt dann zu dem Schritt 504 zurück, um die Temperatur zu einem späteren Zeitpunkt zu überprüfen, wobei auf Grund der Änderung auf einen niedrigeren groben Temperaturbereich die Vier-Bit-TEMP_DATA einem der feinen Temperaturbereiche in dem niedrigeren groben Temperaturbereich entsprechen.
Wenn eine Bedingung mit einer Bereichsunterschreitung nicht vorhanden ist, stellen die TEMP_DATA Daten dar, die einem feinen Temperaturbereich entsprechen. Auf der Basis der groben und der feinen Bereiche, die in der Tabelle 300 definiert sind, stellen die Vier-Bit-TEMP_DATA eine gemessene Temperatur auf einen feinen Temperaturbereich innerhalb von 5°C über einen groben Temperaturbereich zwischen 40°C und 95°C dar. Das Niveau der Temperaturauflösung und die Ausdehnung des groben Temperaturbereichs sollten für die meisten Anwendungen ausreichend sein. Wie bereits erwähnt worden ist, können die groben und die feinen Bereiche jedoch auch zur Einstellung eines gewünschten Niveaus der Temperatureinstellung und der Ausdehnung des groben Temperaturbereichs eingestellt werden.
6 zeigt ein Blockdiagramm eines Prozessor-basierten Systems 600, das eine Verarbeitungsschaltungseinrichtung 702 aufweist, die die Speichervorrichtung 100 der 1 beinhaltet. Typischerweise ist die Verarbeitungsschaltungseinrichtung 702 durch Adressen-, Daten- und Steuerbusse mit der Speichervorrichtung 100 gekoppelt, um für das Einschreiben von Daten in die Speichervorrichtung sowie für das Auslesen von Daten aus der Speichervorrichtung zu sorgen. Die Verarbeitungsschaltungseinrichtung 702 beinhaltet Schaltungseinrichtungen zum Ausführen von verschiedenen Rechenfunktionen, wie zum Beispiel die Ausführung von spezieller Software zum Durchführen von speziellen Rechenvorgängen oder Aufgaben. Weiterhin beinhaltet das Prozessor-basierte System 700 eine oder mehrere Eingabevorrichtungen 704, wie zum Beispiel eine Tastatur oder eine Maus, die mit der Verarbeitungsschaltungseinrichtung 702 gekoppelt sind, um eine Bedienungsperson in die Lage zu versetzen, eine Schnittstelle mit dem Prozessor-basierten System 700 zu bilden. Typischerweise beinhaltet das Prozessor-basierte System 700 auch eine oder mehrere Ausgabevorrichtungen 706, die mit der Verarbeitungsschaltungseinrichtung 702 gekoppelt sind, wobei z. B. solche Ausgabevorrichtungen typischerweise einen Drucker und ein Bildterminal beinhalten können. Eine oder mehrere Datenspeichervorrichtungen 708 sind typischerweise ebenfalls mit der Verarbeitungsschaltungseinrichtung 702 gekoppelt, um Daten zu speichern oder Daten von externen Speichermedien (nicht gezeigt) abzurufen. Beispiele von typischen Speichervorrichtungen 708 beinhalten Festplatten und Disketten, Bandkassetten, Kompakt-Disk-Festspeicher ("CD-ROMs") sowie Kompakt-Disk-Schreib-Lese-Speicher ("CD-RW-Speicher") sowie digitale Videoplatten ("DVDs").
Aus dem Vorstehenden versteht sich, dass zwar verschiedene Ausführungsformen der Erfindung vorstehend zum Zweck der Erläuterung beschrieben worden sind, wobei jedoch verschiedene Modifikationen vorgenommen werden können, ohne dass man den Gedanken und den Umfang der Erfindung verlässt. Somit unterliegt die Erfindung keinen anderen Einschränkungen, als diese durch die beigefügten Ansprüche vorgegeben sind.
ZUSAMMENFASSUNG
Eine Schaltung und ein Verfahren zum Bereitstellen von Temperaturdaten, die eine von einem Temperatursensor gemessene Temperatur anzeigen. Die Schaltung ist mit dem Temperatursensor gekoppelt und dafür konfiguriert, für einen groben Temperaturbereich einen von einer Mehrzahl von feinen Temperaturbereichen entsprechend der von dem Temperatursensor gemessenen Temperatur zu identifizieren sowie Temperaturdaten zu erzeugen, die auf einem asynchronen Ausgangsdatenpfad bereitgestellt werden.

Claims

Temperaturdaten-Ausgangsschaltung zum Bereitstellen von Ausgangsdaten an einer Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen, die eine durch einen Temperatursensor gemessene Temperatur anzeigen, wobei die Schaltung Folgendes aufweist: Eine Temperaturbereichsschaltung, die mit dem Temperatursensor gekoppelt ist und dafür konfiguriert ist, Daten zu empfangen, die die von dem Temperatursensor gemessene Temperatur darstellen, sowie weiterhin dafür konfiguriert ist, ansprechend darauf Temperaturdaten zu erzeugen, die die von dem Temperatursensor gemessene Temperatur anzeigen; ein Register, das mit der Temperaturbereichsschaltung gekoppelt ist, zum Speichern der Temperaturdaten; und eine Ausgangstreiberschaltung, die mit dem Register und der Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen gekoppelt ist, wobei die Ausgangstreiberschaltung dafür konfiguriert ist, die Temperaturdaten in asynchroner Weise an Ausgangsanschlüsse auszugeben und andere Daten in synchroner Weise auszugeben.
Temperaturdaten-Ausgangsschaltung nach Anspruch 1, wobei die von der Temperaturbereichsschaltung erzeugten Temperaturdaten für einen aktuellen groben Temperaturbereich einen von einer Mehrzahl von feinen Temperaturbereichen entsprechend der von dem Temperatursensor gemessenen Temperatur identifizieren.
Temperaturdaten-Ausgangsschaltung nach Anspruch 2, wobei die Temperaturbereichsschaltung eine Temperaturbereichsschaltung aufweist, die zum Empfangen eines Auswahlsignals konfiguriert ist, das den aktuellen groben Temperaturbereich auswählt, wobei der aktuelle grobe Temperaturbereich aus einer Mehrzahl von vorgegebenen gro ben Temperaturbereichen in Abhängigkeit von dem Auswählsignal ausgewählt wird.
Temperaturdaten-Ausgangsschaltung nach Anspruch 3, wobei mindestens zwei der vorgegebenen groben Temperaturbereiche eine Überlappung in den Temperaturbereichen aufweisen.
Temperaturdaten-Ausgangsschaltung nach Anspruch 3, wobei das Auswählsignal eine binäre Zahl darstellt und die vorgegebenen groben Temperaturbereiche in ansteigenden groben Temperaturbereichen angeordnet sind, die unter Erhöhung der binären Zahl ausgewählt werden.
Temperaturdaten-Ausgangsschaltung nach Anspruch 1, wobei die Ausgangstreiberschaltung eine Mehrzahl von Treiberschaltungen aufweist, die mit einem jeweiligen der Ausgangsanschlüsse gekoppelt sind, wobei jede Treiberschaltung einen mit dem Register gekoppelten ersten Eingang sowie einen mit einem Ausgangsdatenbus gekoppelten zweiten Eingang aufweist sowie ferner einen Eingangstaktknoten, an dem ein Taktsignal zugeführt wird, sowie einen Eingangsauswählknoten aufweist, an dem ein Auswahlsignal zugeführt wird, wobei jede Treiberschaltung dafür konfiguriert ist, den jeweiligen ersten Eingang mit dem jeweiligen Ausgangsanschluss in Abhängigkeit von dem einen ersten Zustand aufweisenden Auswahlsignal zu koppeln, sowie ferner dafür konfiguriert ist, den jeweiligen zweiten Eingang mit dem jeweiligen Ausgangsanschluss in Abhängigkeit von dem einen zweiten Zustand aufweisenden Auswählsignal zu koppeln sowie in Abhängigkeit von dem Taktsignal auf dem Ausgangsdatenbus empfangene Daten synchron mit dem Taktsignal an den Ausgangsanschluss zu liefern.
Schaltung zum Bereitstellen von Daten, die eine gemessene Temperatur darstellen für eine Speichervorrichtung, wobei die Schaltung Folgendes aufweist: einen Temperatursensor zum Messen einer Temperatur der Speichervorrichtung; und eine Temperaturdaten-Ausgangsschaltung, die mit dem Temperatursensor gekoppelt ist und dafür konfiguriert ist, eine gemessene Temperatur des Temperatursensors in Temperaturdaten umzuwandeln, die für einen aktuellen groben Temperaturbereich einen von einer Mehrzahl von feinen Temperaturbereichen entsprechend der gemessenen Temperatur identifizieren.
Schaltung nach Anspruch 7, weiterhin mit einer Ausgangstreiberschaltung, die mit der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung und einer Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen der Speichervorrichtung gekoppelt ist, wobei die Ausgangstreiberschaltung dafür konfiguriert ist, die Temperaturdaten in asynchroner Weise auszugeben und andere Daten in synchroner Weise auszugeben.
Schaltung nach Anspruch 7, wobei die Temperaturdaten-Ausgangsschaltung eine Temperaturdaten-Ausgangsschaltung aufweist, die dafür konfiguriert ist, ein Auswahlsignal zu empfangen, das den aktuellen groben Temperaturbereich auswählt, wobei der aktuelle grobe Temperaturbereich aus einer Mehrzahl von vorgegebenen groben Temperaturbereichen in Abhängigkeit von dem Auswählsignal ausgewählt wird.
Schaltung nach Anspruch 9, wobei mindestens zwei der vorgegebenen groben Temperaturbereiche eine Überlappung in den Temperaturbereichen aufweisen.
Schaltung nach Anspruch 9, wobei das Auswählsignal eine binäre Zahl darstellt und die vorgegebenen groben Temperaturbereiche in ansteigenden groben Temperaturbereichen angeordnet sind, die unter Erhöhen der binären Zahl ausgewählt werden.
Speichervorrichtung, aufweisend: Einen Adressenbus; einen Steuerbus; einen Datenbus; eine Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen; einen Adressen-Decoder, der mit dem Adressenbus gekoppelt ist; eine Lese/Schreib-Schaltung, die mit dem Datenbus gekoppelt ist; eine Steuerschaltung, die mit dem Steuerbus gekoppelt ist; ein Speicherzellenfeld, das mit dem Adressen-Decoder, der Steuerschaltung und der Lese/Schreib-Schaltung gekoppelt ist; ein Ausgangspuffer, das mit dem Datenbus und mit der Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen gekoppelt ist; einen Temperatursensor zum Messen einer Temperatur der Speichervorrichtung; und eine Temperaturdaten-Ausgangsschaltung, die mit dem Ausgangspuffer gekoppelt ist und ferner mit dem Temperatursensor gekoppelt ist, wobei die Temperaturdaten-Ausgangsschaltung dafür konfiguriert ist, eine gemessene Temperatur des Temperatursensors in Temperaturdaten umzuwandeln, die für einen aktuellen groben Temperaturbereich einen von einer Mehrzahl von feinen Temperaturbereichen entsprechend der gemessenen Temperatur identifizieren.
Speichervorrichtung nach Anspruch 12, wobei das Ausgangspuffer eine Ausgangstreiberschaltung aufweist, die mit der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung und einer Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen gekoppelt ist, wobei die Ausgangstreiberschaltung dafür konfiguriert ist, die Temperaturdaten in asynchroner Weise an Ausgangsanschlüsse auszugeben und andere Daten in synchroner Weise auszugeben.
Speichervorrichtung nach Anspruch 13, wobei die Ausgangstreiberschaltung eine Mehrzahl von Treiberschaltungen aufweist, die mit einem jeweiligen der Ausgangsanschlüsse gekop gelt sind, wobei jede Treiberschaltung einen mit der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung gekoppelten ersten Eingang und einen mit dem Datenbus gekoppelten zweiten Eingang aufweist sowie ferner einen Eingangstaktknoten, an dem ein Taktsignal zugeführt wird, sowie einen Eingangsauswählknoten aufweist, der mit der Steuerschaltung gekoppelt ist, an der ein Auswählsignal zugeführt wird, wobei jede Treiberschaltung dafür konfiguriert ist, den jeweiligen ersten Eingang mit dem jeweiligen Ausgangsanschluss in Abhängigkeit von dem einen ersten Zustand aufweisenden Auswahlsignal zu koppeln sowie ferner dafür konfiguriert ist, den jeweiligen zweiten Eingang mit dem jeweiligen Ausgangsanschluss in Abhängigkeit von dem einen zweiten Zustand aufweisenden Auswahlsignal zu koppeln sowie in Abhängigkeit von dem Taktsignal auf dem Datenbus empfangene Daten synchron mit dem Taktsignal an den Ausgangsanschluss zu liefern.
Speichervorrichtung nach Anspruch 12, wobei die Temperaturdaten-Ausgangsschaltung eine Temperaturdaten-Ausgangsschaltung aufweist, die dafür konfiguriert ist, ein Auswählsignal zu empfangen, das den aktuellen groben Temperaturbereich auswählt, wobei der aktuelle grobe Temperaturbereich aus einer Mehrzahl von vorgegebenen groben Temperaturbereichen in Abhängigkeit von dem Auswahlsignal ausgewählt wird.
Speichervorrichtung nach Anspruch 15, weiterhin mit einem Modusregister, das mit der Temperaturbereichsschaltung der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung gekoppelt ist, wobei das Modusregister dafür konfiguriert ist, Daten in einem groben Temperaturbereichsfeld zu speichern, wobei das Auswahlsignal den in dem groben Temperaturbereichsfeld gespeicherten Daten entspricht.
Speichervorrichtung nach Anspruch 15, wobei mindestens zwei der vorgegebenen groben Temperaturbereiche eine Überlappung in den Temperaturbereichen aufweisen.
Speichervorrichtung nach Anspruch 15, wobei das Auswählsignal eine binäre Zahl darstellt und wobei die vorgegebenen groben Temperaturbereiche in ansteigenden groben Temperaturbereichen angeordnet sind, die unter Erhöhen der binären Zahl ausgewählt werden.
Speichervorrichtung, aufweisend: Einen Adressenbus; einen Steuerbus; einen Datenbus; eine Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen; einen Adressen-Decoder, der mit dem Adressenbus gekoppelt ist; eine Lese/Schreib-Schaltung, die mit dem Datenbus gekoppelt ist; eine Steuerschaltung, die mit dem Steuerbus gekoppelt ist; ein Speicherzellenfeld, das mit dem Adressen-Decoder, der Steuerschaltung und der Lese/Schreib-Schaltung gekoppelt ist; ein Ausgangspuffer, das mit dem Datenbus und mit der Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen gekoppelt ist; eine Temperatursensor- und Schaltungseinrichtung, die dafür konfiguriert ist, eine Temperatur zu messen und Daten zu erzeugen, die eine gemessene Temperatur darstellen; und eine Temperaturdaten-Ausgangsschaltung, die mit der Temperatursensor- und Schaltungseinrichtung gekoppelt ist und ferner mit dem Ausgangspuffer gekoppelt ist, wobei die Temperaturdaten-Ausgangsschaltung dafür konfiguriert ist, Ausgangsdaten an der Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen bereitzustellen, die die gemessene Temperatur anzeigen, wobei die Temperaturdaten-Ausgangsschaltung Folgendes aufweist: Eine Temperaturbereichsschaltung, die mit der Temperatursensor- und Schaltungseinrichtung gekoppelt ist und dafür konfiguriert ist, die die gemessene Temperatur darstellenden Daten zu empfangen, sowie ferner dafür konfiguriert ist, ansprechend darauf Temperaturdaten zu erzeugen, die die gemessene Temperatur anzeigen; ein Register, das mit der Temperaturbereichsschaltung gekoppelt ist, zum Speichern der Temperaturdaten; und eine Ausgangstreiberschaltung, die mit dem Register und der Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen gekoppelt ist, wobei die Ausgangstreiberschaltung dafür konfiguriert ist, die Temperaturdaten in asynchroner Weise an Ausgangsanschlüsse auszugeben und andere Daten in synchroner Weise auszugeben.
Speichervorrichtung nach Anspruch 19, wobei die Ausgangstreiberschaltung der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung eine Ausgangstreiberschaltung aufweist, die in dem Ausgangspuffer enthalten ist, das zwischen dem Datenbus und dem Register der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung gemultiplext wird.
Speichervorrichtung nach Anspruch 20, wobei die Ausgangstreiberschaltung eine Mehrzahl von Treiberschaltungen aufweist, die mit einem jeweiligen der Ausgangsanschlüsse gekoppelt sind, wobei jede Treiberschaltung einen mit dem Register der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung gekoppelten ersten Eingang und einen mit dem Datenbus gekoppelten zweiten Eingang aufweist sowie ferner einen Eingangstaktknoten, an dem ein Taktsignal zugeführt wird, sowie einen mit der Steuerschaltung gekoppelten Eingangsauswählknoten aufweist, an dem ein Auswahlsignal zugeführt wird, wobei jede Treiberschaltung dafür konfiguriert ist, den jeweiligen ersten Eingang in Abhängigkeit von dem einen ersten Zustand aufweisenden Auswählsignal mit dem jeweiligen Ausgangsanschluss zu koppeln, sowie ferner dafür konfiguriert ist, den jeweiligen zweiten Eingang in Abhängigkeit von dem einen zweiten Zustand aufweisenden Auswählsignal mit dem jeweiligen Ausgangsanschluss zu koppeln sowie in Abhängigkeit von dem Taktsignal auf dem Datenbus empfangene Daten synchron mit dem Taktsignal an den Ausgangsanschluss zu liefern.
Speichervorrichtung nach Anspruch 19, wobei die durch die Temperaturbereichsschaltung erzeugten Temperaturdaten für einen aktuellen groben Temperaturbereich einen von einer Mehrzahl von feinen Temperaturbereichen entsprechend der von dem Temperatursensor gemessenen Temperatur identifizieren.
Speichervorrichtung nach Anspruch 22, wobei die Temperaturbereichsschaltung der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung eine Temperaturbereichsschaltung aufweist, die dafür konfiguriert ist, ein Auswahlsignal zu empfangen, das den aktuellen groben Temperaturbereich auswählt, wobei der aktuelle grobe Temperaturbereich aus einer Mehrzahl von vorgegebenen groben Temperaturbereichen in Abhängigkeit von dem Auswahlsignal ausgewählt wird.
Speichervorrichtung nach Anspruch 23, weiterhin aufweisend ein Modusregister, das mit der Temperaturbereichsschaltung der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung gekoppelt ist, wobei das Modusregister dafür konfiguriert ist, Daten in einem groben Temperaturbereichsfeld zu speichern, wobei das Auswählsignal den Daten entspricht, die in dem groben Temperaturbereichsfeld gespeichert sind.
Speichervorrichtung nach Anspruch 23, wobei mindestens zwei der vorgegebenen groben Temperaturbereiche eine Überlappung in den Temperaturbereichen aufweisen.
Speichervorrichtung nach Anspruch 23, wobei das Auswählsignal eine binäre Zahl darstellt und wobei die vorgegebenen groben Temperaturbereiche in ansteigenden groben Temperaturbereichen angeordnet sind, die unter Erhöhen der binären Zahl ausgewählt werden.
Prozessor-basiertes System, aufweisend: Eine Dateneingabevorrichtung; eine Datenausgabevorrichtung; einen Prozessor, der mit der Dateneingabevorrichtung und der Datenausgabevorrichtung gekoppelt ist; und eine Speichervorrichtung, die mit dem Prozessor gekoppelt ist, wobei die Speichervorrichtung Folgendes aufweist: Einen Adressenbus; einen Steuerbus; einen Datenbus; eine Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen; einen Adressen-Decoder, der mit dem Adressenbus gekoppelt ist; eine Lese/Schreib-Schaltung, die mit dem Datenbus gekoppelt ist; eine Steuerschaltung, die mit dem Steuerbus gekoppelt ist; ein Speicherzellenfeld, das mit dem Adressen-Decoder, der Steuerschaltung und der Lese/Schreib-Schaltung gekoppelt ist; ein Ausgangspuffer, das mit dem Datenbus und mit der Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen gekoppelt ist; einen Temperatursensor zum Messen einer Temperatur der Speichervorrichtung; und eine Temperaturdaten-Ausgangsschaltung, die mit dem Ausgangspuffer gekoppelt ist und ferner mit dem Temperatursensor gekoppelt ist, wobei die Temperaturdaten-Ausgangsschaltung dafür konfiguriert ist, eine gemessene Temperatur des Temperatursensors in Temperaturdaten umzuwandeln, die für einen aktuellen groben Temperaturbereich einen von einer Mehrzahl von feinen Temperaturbereichen entsprechend der gemessenen Temperatur identifizieren.
Prozessor-basiertes System nach Anspruch 27, wobei das Ausgangspuffer eine Ausgangstreiberschaltung aufweist, die mit der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung und einer Mehrzahl der Ausgangsanschlüsse gekoppelt ist, wobei die Ausgangstreiberschaltung dafür konfiguriert ist, die Temperaturdaten in asynchroner Weise auszugeben und andere Daten in synchroner Weise auszugeben.
Prozessor-basiertes System nach Anspruch 28, wobei die Ausgangstreiberschaltung eine Mehrzahl von Treiberschaltungen aufweist, die mit einem jeweiligen der Ausgangsanschlüsse gekoppelt sind, wobei jede Treiberschaltung einen mit der Temperaturdaten-Ausgangsschaltung gekoppelten ersten Eingang und einen mit dem Datenbus gekoppelten zweiten Eingang aufweist sowie ferner einen Eingangstaktknoten, an dem ein Taktsignal zugeführt wird, sowie einen mit der Steuerschaltung gekoppelten Eingangsauswählknoten aufweist, an dem ein Auswählsignal zugeführt wird, wobei jede Treiberschaltung dafür konfiguriert ist, den jeweiligen ersten Eingang in Abhängigkeit von dem einen ersten Zustand aufweisenden Auswahlsignal mit dem jeweiligen Ausgangsanschluss zu koppeln, sowie ferner dafür konfiguriert ist, den jeweiligen zweiten Eingang in Abhängigkeit von dem einen zweiten Zustand aufweisenden Auswahlsignal mit dem jeweiligen Ausgangsanschluss zu koppeln sowie in Abhängigkeit von dem Taktsignal auf dem Datenbus empfangene Daten in synchroner Weise mit dem Taktsignal an den Ausgangsanschluss zu liefern.
Prozessor-basiertes System nach Anspruch 27, wobei die Temperaturdaten-Ausgangsschaltung eine Temperaturdaten-Ausgangsschaltung aufweist, die dafür konfiguriert ist, ein Auswählsignal zu empfangen, das den aktuellen groben Temperaturbereich auswählt, wobei der aktuelle grobe Temperaturbereich aus einer Mehrzahl von vorgegebenen groben Temperaturbereichen in Abhängigkeit von dem Auswahlsignal ausgewählt wird.
Prozessor-basiertes System nach Anspruch 30, weiterhin mit einem Modusregister, das mit der Temperaturbereichs-Ausgangsschaltung gekoppelt ist, wobei das Modusregister dafür konfiguriert ist, Daten in einem groben Temperaturbereichsfeld zu speichern, wobei das Auswählsignal den in dem groben Temperaturbereichsfeld gespeicherten Daten entspricht.
Prozessor-basiertes System nach Anspruch 30, wobei mindestens zwei der vorgegebenen groben Temperaturbereiche eine Überlappung in den Temperaturbereichen aufweisen.
Prozessor-basiertes System nach Anspruch 30, wobei das Auswahlsignal eine binäre Zahl darstellt und die vorgegebenen groben Temperaturbereiche in ansteigenden groben Temperaturbereichen angeordnet sind, die unter Erhöhen der binären Zahl ausgewählt werden.
Verfahren zum Bereitstellen von Temperaturdaten, die eine Temperatur anzeigen, die von einem in eine Halbleiterschaltung integrierten Temperatursensor gemessen wird, wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist: Identifizieren von einem von einer Mehrzahl von Temperaturbereichen entsprechend der von dem Temperatursensor gemessenen Temperatur; Erzeugen von Temperaturdaten, die den identifizierten Temperaturbereich anzeigen, wobei die Temperaturdaten eine Mehrzahl von Binärzahlen aufweisen; und Koppeln der Binärzahlen der Temperaturdaten mit einem jeweiligen von einer Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen.
Verfahren nach Anspruch 34, das folgende weiteren Schritte aufweist: Umwandeln eines analogen Signals, das die gemessene Temperatur darstellt, in Daten, die die gemessene Temperatur darstellen; und Vergleichen der Daten mit der Mehrzahl von Temperaturbereichen.
Verfahren nach Anspruch 34, wobei das Identifizieren von einem der Mehrzahl von Temperaturbereichen folgende Schritte aufweist: Bestimmen eines aktuellen groben Temperaturbereichs, der aus einer Mehrzahl von groben Temperaturbereichen ausgewählt wird; und auf der Basis des aktuellen groben Temperaturbereichs erfolgende Bestimmung, welcher von einer Mehrzahl von vorgegebenen feinen Temperaturbereichen des aktuellen groben Temperaturbereichs der von dem Temperatursensor gemessenen Temperatur entspricht.
Verfahren nach Anspruch 36, wobei die Mehrzahl der groben Temperaturbereiche eine Mehrzahl von groben Temperaturbereichen aufweist, die mindestens zwei grobe Temperaturbereiche mit in Abfolge vorgesehenen Temperaturbereichen aufweisen sowie mindestens zwei grobe Temperaturbereiche mit einer Überlappung von Temperaturbereichen aufweisen.
Verfahren nach Anspruch 34, wobei das Koppeln der Binärzahlen der Temperaturdaten mit einem jeweiligen von der Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen folgende Schritte aufweist: Entkoppeln der Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen von einem synchronen Ausgangspfad; Koppeln der Binärzahlen der Temperaturdaten mit einem asynchronen Ausgangspfad; und Koppeln des asynchronen Ausgangspfads mit der Mehrzahl von Ausgangsanschlüssen.
Verfahren zum Überwachen einer Temperatur, die von einem Temperatursensor gemessen wird, der in eine Halbleiterschaltung integriert ist, wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist: Vorgeben eines aktuellen groben Temperaturbereichs bis zu einem minimalen groben Temperaturbereich; Empfangen von Temperaturdaten von der Halbleiterschaltung, wobei die Temperaturdaten einen von einer Mehrzahl von feinen Temperaturbereichen entsprechend der von dem Temperatursensor gemessenen Temperatur identifizieren; in Abhängigkeit von den Temperaturdaten, die einen feinen Temperaturbereich entsprechend einer Bereichsüberschreitungs-Bedingung des ak tuellen groben Temperaturbereichs identifizieren, erfolgendes Umschalten des aktuellen groben Temperaturbereichs auf einen höheren groben Temperaturbereich; in Abhängigkeit von den Temperaturdaten, die einen feinen Temperaturbereich entsprechend einer Bereichsunterschreitungs-Bedingung des aktuellen groben Temperaturbereichs darstellen, erfolgendes Umschalten des aktuellen groben Temperaturbereichs auf einen niedrigeren groben Temperaturbereich; und Identifizieren des feinen Temperaturbereichs entsprechend der von dem Temperatursensor gemessenen Temperatur auf der Basis des aktuellen groben Temperaturbereichs und der Temperaturdaten.
Verfahren nach Anspruch 39, das ferner die Initiierung eines Vorgangs zum Reduzieren der Temperatur ansprechend auf die Temperaturdaten aufweist, die einen feinen Temperaturbereich entsprechend einer Bereichsüberschreitungs-Bedingung für einen maximalen groben Temperaturbereich identifizieren.
Verfahren nach Anspruch 39, wobei die Temperaturdaten, die einen feinen Temperaturbereich entsprechend einer Bereichsüberschreitungs-Bedingung identifizieren, Temperaturdaten aufweisen, die durch eine Mehrzahl von Binärzahlen dargestellt werden, die alle einen ersten Wert aufweisen.
Verfahren nach Anspruch 41, wobei die Temperaturdaten, die einen feinen Temperaturbereich entsprechend einer Bereichsunterschreitungs-Bedingung identifizieren, Temperaturdaten aufweisen, die durch die Mehrzahl von Binärzahlen dargestellt werden, die alle einen zweiten Wert aufweisen.
Verfahren nach Anspruch 39, wobei der aktuelle grobe Temperaturbereich einen von einer Mehrzahl von groben Temperaturbereichen aufweist, wobei die Mehrzahl der gro ben Temperaturbereiche mindestens zwei Temperaturbereiche beinhaltet, die in Abfolge vorgesehen sind.
Verfahren nach Anspruch 39, wobei der aktuelle grobe Temperaturbereich einen von einer Mehrzahl von groben Temperaturbereichen aufweist, wobei die Mehrzahl von groben Temperaturbereichen mindestens zwei Temperaturbereiche mit überlappenden Temperaturen aufweist.